Дефектоскопия 2006  
5-7 сентября 2006 года прошла VII специализированная выставка приборов и оборудования для неразрушающего контроля "Дефектоскопия-2006." Совершенно очевидно, что ошибки прошлого года были организаторами учтены - и выставка вновь вернулась в родные пенаты- Михайловский Манеж. Кроме того, довольно насыщенная деловая программа и активная реклама - также сделали свое дело- количество посетителей значительно увеличилось. И это замечательно, что не смотря на имеющиеся проблемы в сфере выставочной деятельности вообще, специалисты по НК не потеряли доверия к данной профессиональной выставке.


В рамках выставки комиссией, состоящей из специалистов крупнейших заводов была проведена оценка средств неразрушающего контроля, за годы экплуатации хорошо зарекомендовавших себя на практике. Наши толщиномеры покрытий ТМ-3 и ТМ-4, и ферритометр/измеритель электропроводности МВП-2М были отмечены дипломами комиссии.

диплом за толщиномер покрытий ТМ-3  

диплом за толщиномер покрытий ТМ-4  

диплом за ферритометр МВП-2М  
Фото с выставки


Фирма Акустические Контрольные Системы (Москва)  

Фирма Машпроект (Санкт-Петербург)  

Фирма Виматек (Санкт-Петербург)  

Фирма Olympus (Москва)  

Фирма Спектрофлэш  

 Фирма МЕТ (Зеленоград)  

Фирма Алтес (Москва)  

Фирма Кропус  

Фирма Диагност (Москва)  

Фирма Пергам (Москва)  

дискуссии на стендах  

Фирма Алтек (Санкт-Петербург)  

награждение дипломами